T- Probe和T-Scan
徠卡為車(che)間生產提供(gong)了具(ju)有(you)更多功能和更高靈活(huo)性的(de)測(ce)(ce)量工(gong)具(ju)，使(shi)得(de)檢測(ce)(ce)、裝(zhuang)配(pei)和逆(ni)向工(gong)程(cheng)等工(gong)作的(de)效率得(de)到顯著(zhu)的(de)提高。被稱(cheng)為“Walk-Around CMM”的(de)T-Probe可以(yi)顯著(zhu)提高測(ce)(ce)量速度并使(shi)測(ce)(ce)量結果(guo)更精確。從另一個(ge)角度來(lai)說，它可以(yi)完成許多三坐標(biao)測(ce)(ce)量機不能做的(de)任務。
被稱為“Walk-Around Scanner” 的T-Scan能夠使快速地(di)數字化各種表面(mian)，能夠達到更高的精(jing)度，而且不(bu)需要對表面(mian)進行任何(he)預先處理(li)。
詳(xiang)細的(de)技術(shu)資料(liao)請參閱徠卡公司激(ji)光跟蹤儀的(de)技術(shu)樣本(ben)。